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費希爾X 射線熒光法的精準應用信息
更新時間:2025-10-24   點擊次數:18次

X 射線熒光法的精準應用

費希爾 X 射線測厚儀基于X 射線熒光(XRF)原理實現無損測量,核心邏輯可概括為 "激發 - 探測 - 分析" 三步:

射線激發:設備內置微焦點 X 射線管(多采用鎢陽極)發射初級 X 射線,穿透被測材料表層;

熒光產生:材料原子吸收能量后釋放特征熒光射線,其能量與元素種類對應,強度與厚度正相關;

信號解析:通過比例計數管、硅 PIN 二極管或硅漂移探測器(SDD)捕捉熒光信號,經數字脈沖處理器(DPP+)轉化為電信號,最終由軟件計算厚度值。

這一技術可實現0.01μm 級精度測量,且支持真空與空氣兩種測量環境,能適應最高 400℃的樣品溫度。

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