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產(chǎn)品展示
MiniTest 720測厚儀上海代理專業(yè)供貨
主要特征：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識別基體，使測量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
標(biāo)準(zhǔn)配置： 帶塑料手提箱，內(nèi)含：
－MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
－或MINITEST 730（外置探頭）
－或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
－校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
－操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
－2節(jié)AA電池
推薦配件: －F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
德國Elektrophysik產(chǎn)品 MiniTest 720涂層測厚儀不同于同系列的產(chǎn)品730和740，是內(nèi)置探頭。 MiniTest 720涂層測厚儀采用了創(chuàng)新的SIDSP技術(shù)，產(chǎn)品按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握，配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便任意角度讀取數(shù)據(jù)。儀器還具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。顯示讀值個(gè)數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）還有rDA 1.0（紅外接口)
MiniTest 720測厚儀上海代理專業(yè)供貨
SIDSP®創(chuàng)新的傳感器技術(shù)：
SIDSP®是良好的涂層厚度傳感器由ElektroPhysik開發(fā)的。有了這項(xiàng)新技術(shù)，ElektroPhysik創(chuàng)新的涂層厚度測量的另一個(gè)新*。 （ MiniTest 720測厚儀用于產(chǎn)品質(zhì)量控制和檢測）
在其中信號*處理成數(shù)字形式，在傳感器內(nèi)部的技術(shù)。 與常規(guī)技術(shù)不同，SIDSP®傳感器和控制內(nèi)部的傳感器的傳感器頭的激勵(lì)信號。返回信號直接轉(zhuǎn)換成數(shù)字，并在32位精度處理，給你完整的涂層厚度值。對于該技術(shù)中，均采用了高度復(fù)雜的數(shù)字信號處理方法。這使迄今實(shí)現(xiàn)了信號的質(zhì)量和精度的模擬信號處理，EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的性能。
探頭類型：
探頭 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復(fù)性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |||||
